Időpont:
2021. március 10., 14:30
Helyszín:
Zoom
Előadó:
Koós Krisztián (ELKH Szegedi Biológiai Kutatóközpont, Horváth lab)
Cím:
Automatic deep learning-driven label-free image-guided patch clamp system
Kivonat:
Az agysejtek elektrofiziológiai vizsgálata rendkívül hasznos
információt nyújt azok működésének megértésére, gyógyszerek hatásának
vizsgálatára, vagy a köztük lévő kapcsolatok felfedezésére. Az ehhez
szükséges folt-feszültségzár (patch clamp) módszer viszont időigényes
folyamat, akár hónapokba is telhet megfelelő elsajátítása, és utána is
nagy körültekintést igényel. Az előadás során bemutatom az általunk
készített automatizált mikroszkóprendszert, mely jelölésmentes
képalkotást használ és képes a teljes sejt (whole-cell) patch clamp
konfiguráció kialakítására. A fejlesztés fő eredményei a mély
tanuláson alapuló sejtdetekció, a felhasznált mikropipetta hegyének
detekciója, valamint a célsejt folyamatos követése a térben. A
rendszerrel könnyedén lehet minőséges méréseket végezni és
megtöbbszörözni a napi vizsgálatok számát.
